Axios-PW4400型X射线荧光仪的曲线漂移校正方法

• 作者: 吴培远
• 来源期刊: 水泥工程
• 关键词: X射线荧光仪 荧光强度 稳定性 漂移校正
• 年，卷（期）: 2021,（4）
• 所属期刊栏目: 设计研究|Design and Research
• 页码范围: 22-24
• 页数: 3页
• 分类号: TQ172.6
• 语种: 中文
• DOI: 10.13697/j.cnki.32-1449/tu.2021.04.007

摘要

本文介绍了Axios-PW4400型X射线荧光仪的曲线漂移校正方法,从监控荧光仪稳定性入手,当仪器状态发生变化时使用标准化样对漂移的荧光强度进行补偿校正,消除仪器状态变化对荧光仪检测结果的影响,并通过检测标样完成对工作曲线准确性的验证.该校正方法代替了用手工滴定进行比对的传统方法,大大提高了工作效率,降低了劳动强度.