基于改进的SIFT算法的红外图像配准

• 作者: 蔡天旺 付胜
• 来源期刊: 测控技术
• 关键词: 特征点匹配 电路板红外图像配准 描述子 分层阈值
• 年，卷（期）: 2021,（7）
• 所属期刊栏目: 模式识别与人工智能
• 页码范围: 40-45
• 页数: 6页
• 分类号: TP751.1
• 语种: 中文
• DOI: 10.19708/j.ckjs.2021.07.008

摘要

电路板红外图像具有分辨率低、对比度低、信噪比低、视觉效果模糊的特点,目前的图像配准算法用于电路板红外图像配准时,运算时间长且匹配准确度低.针对电路板红外图像的特点,梳理了图像配准方面的国内外研究现状,分析了SIFT算法的基本原理,对原有的SIFT算法进行了修改.对特征点的提取方式进行了改进,减少了不必要的特征点;改进了特征点的描述符,降低了特征向量的维数;在特征点匹配的时候加入了分层阈值.对改进的算法进行了一系列的测试,针对三对电路板的红外图像进行配准,实验结果表明,相比于传统的SIFT算法,改进的SIFT算法在进行电路板红外图像配准的时候,匹配的准确率和运算时间得到了很大的提升,为电路板红外图像的配准提供了新的方法.