相控阵雷达系统的BIT设计和故障诊断方法

• 作者: 苏洲阳
• 来源期刊: 电子测量技术
• 关键词: 相控阵雷达 机内测试 故障诊断
• 年，卷（期）: 2021,（4）
• 所属期刊栏目: 测试系统与模块化组件|Test System and Modular Components
• 页码范围: 172-176
• 页数: 5页
• 分类号: TN952
• 语种: 中文
• DOI: 10.19651/j.cnki.emt.2105645

摘要

良好的机内测试(BIT)设计和合理的故障诊断方法选择能够有效提升相控阵雷达系统的故障检测和诊断能力.本文阐述了雷达系统BIT设计的基本思路,针对某多功能相控阵雷达的基本组成和功能特点,设计了集中控制和分级检测相结合的分布式BIT结构以及相应的BIT工作流程,并且介绍了不同故障诊断方法的选择依据.通过基于故障注入的实验验证,该雷达BIT系统的故障检测率≥95％,故障隔离率≥90％(隔离到3个LRU),≥85％(隔离到1个LRU),故障虚警率≤5％,满足雷达总体的要求,结果证明了该雷达BIT设计的有效性.最后展望了未来相控阵雷达系统故障检测与诊断技术发展的重点方向.