4.5 kV非对称GCT阻断电压失效分析

• 作者: 王政英 操国宏 王东东 高军
• 来源期刊: 电力电子技术
• 关键词: 门极换流晶闸管 非对称 阻断电压 少子寿命
• 年，卷（期）: 2021,（2）
• 所属期刊栏目: 器件与测试及其他|DEVICE AND TESTING AND OTHERS
• 页码范围: 134-136
• 页数: 3页
• 分类号: TN34
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-100X.2021.02.035

摘要

介绍了4.5 kV非对称门极换流晶闸管(GCT)阻断电压失效现象,并进行分析.通过对GCT工艺流程的梳理,找到了GCT阻断电压失效的原因.制造过程中,铝扩散工艺中受到污染导致了少子寿命的大幅降低,从而造成GCT漏电流过大的特性.最终通过在铝氧化推进工艺中引入二氯乙烯(DCE)清洗或在铝扩散后增加磷吸收工艺,解决了GCT阻断电压失效的问题.