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摘要:
Molybdenum disulfide (MoS2) holds great promise as atomically thin two-dimensional (2D) semiconductor for future electronics and opto-alectronics.In this report,we study the magnetoresistance (MR) of MoS2 field-effect transistors (FETs) with graphene insertion layer at the contact interface.Owing to the unique device structure and high-quality contact interface,a gate-tunable linear MR up to 67% is observed at 2 K.By comparing with the MRs of graphene FETs and MoS2 FETs with conventional metal contact,it is found that this unusual MR is most likely to be originated from the contact interfaces between graphene and MoS2,and can be explained by the classical linear MR model caused by spatial fluctuation of carrier mobility.Our study demonstrates large MR responses in MoS2-based systems through heterojunction design,shedding lights for the future magneto-electronics and van der Waals heterostructures.
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篇名 Gate-tunable linear magnetoresistance in molybdenum disulfide field-effect transistors with graphene insertion layer
来源期刊 纳米研究(英文版) 学科
关键词
年,卷(期) 2021,(6) 所属期刊栏目 Magnetic/Magnetoelectronics
研究方向 页码范围 1814-1818
页数 5页 分类号
字数 语种 英文
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纳米研究(英文版)
月刊
1998-0124
11-5974/O4
北京市海淀区清华大学学研大厦A座5-7层
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