某型电子产品贮存寿命加速退化试验方法研究

• 作者: 代永德 栾家辉 韩慧超 米海波 王诏宣
• 来源期刊: 机电技术
• 学科: 工学
• 关键词: 导弹武器 电子产品 加速寿命试验 贮存寿命 Arrhenius模型
• 年，卷（期）: 2021,（6）
• 所属期刊栏目: 机电设计与研究
• 页码范围: 12-14
• 页数: 3页
• 分类号: TB114.3
• 语种: 中文
• DOI: 10.19508/j.cnki.1672-4801.2021.06.004

摘要

由于导弹武器电子产品种类繁多、组成复杂,贮存寿命加速退化试验方案设计难度较大,针对该问题提出了通过对薄弱环节进行加速寿命试验推出导弹武器电子产品贮存寿命的方法,以弹上某电子部件为例,选用Arrhenius模型加速模型,开展贮存寿命加速退化试验方案设计,试验结果表明:在置信度为0.7、可靠度为0.95的条件下,在试验温度分别为75℃、80℃、85℃时,试验时间分别约为184天、126天、88天.该方法为今后导弹武器电子产品开展贮存寿命加速退化试验提供了一种思路.