传导辐射测试中分离共模和差模辐射的实用方法

• 作者: Ling Jiang Frank Wang Keith Szolusha Kurk Mathews
• 来源期刊: 电子产品世界
• 年，卷（期）: 2021,（7）
• 所属期刊栏目: 热门技术|Focus Technology
• 页码范围: 30-32
• 页数: 3页
• 语种: 中文

摘要

0 引言 开关稳压器的EMI分为电磁辐射和传导辐射(CE).本文重点讨论传导辐射,其可进一步分为两类:共模(CM)噪声和差模(DM)噪声.为什么要区分CM-DM?对CM噪声有效的EMI抑制技术不一定对DM噪声有效,反之亦然,因此,确定传导辐射的来源可以节省花在抑制噪声上的时间和金钱.本文介绍一种将CM辐射和DM辐射从LTC7818控制的开关稳压器中分离出来的实用方法.知道CM噪声和DM噪声在CE频谱中出现的位置,电源设计人员便可有效应用EMI抑制技术,从长远来看可以节省设计时间和BOM成本.