特发性颅内压增高伴双侧横窦狭窄支架治疗2年随访

• 作者: 何旭东 郝永岗 郑续 陈毅刚 胡兴越
• 来源期刊: 全科医学临床与教育
• 关键词: 特发性颅内压增高 脑静脉窦狭窄 支架成形术
• 年，卷（期）: 2021,（9）
• 所属期刊栏目: 论著|Original Article
• 页码范围: 789-792,封3
• 页数: 5页
• 语种: 中文
• DOI: 10.13558/j.cnki.issn1672-3686.2021.009.006

摘要

目的 评价脑静脉窦支架成形术治疗特发性颅内压增高(IIH)伴双侧横窦狭窄的安全性和有效性.方法 对5例确诊为IIH伴双侧横窦狭窄并行支架成形术患者进行2年术后随访.患者均接受全脑血管造影,脑静脉内跨窦狭窄处微导管测压,术前和术后腰椎穿刺脑脊液测压,并行眼底照相、光学相干断层扫描评估视神经乳头水肿情况.随访期间观察患者临床症状变化,脑血管造影或CT静脉成像(CTV)复查脑静脉窦及支架情况.结果 1例为优势侧横窦内源性狭窄,4例为优势侧横窦外源性狭窄.脑静脉窦支架成形术后跨狭窄病变压力梯度由术前平均(22.20±5.05)mmHg降至术后平均(1.40±0.75)mmHg,腰穿脑脊液压力由术前平均(322.0±37.20)mmH2O降至术后平均(162.00±13.19)mmH2O.术后头痛、头晕、视力下降、耳鸣、复视症状均明显改善或缓解,视神经乳头水肿均明显减轻.随访2年,所有症状均缓解,无复发.影像学检查提示支架形态良好,未见支架内或临近部位再狭窄.结论 脑静脉窦支架成形术治疗IIH伴双侧横窦狭窄安全、有效,但需要进一步大样本、随机对照研究.