笔记本电脑高速存储芯片电磁辐射检测

• 作者: 周飚 胡剑文 姚胜 魏伟 阮武 张志国
• 来源期刊: 日用电器
• 关键词: 高速存储芯片 电磁辐射 检测
• 年，卷（期）: 2021,（8）
• 所属期刊栏目: 技术·创新|Technology and Innovation
• 页码范围: 128-133
• 页数: 6页
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-6079.2021.08.031

摘要

本文通过对笔记本电脑高速存储芯片电磁辐射测量方法、表面扫描法的测试原理进行深入研究,对测试数据处理算法、数据呈现方式和数据库模型进行研究,突破传统电磁辐射测量中仅有频谱曲线数据的弊端,实现电磁辐射分布、电磁辐射强度、电磁辐射频谱的多维度可视化呈现及智能化分析.并针对近场探头在不同距离下对高速存储芯片电磁辐射结果影响做具体论述,这对近场辐射的研究十分重要,也进一步推动了新产品研发测试的发展.