T/R阵列自动测试系统去嵌入技术研究

• 作者: 彭安虎 韩周安 李志强
• 来源期刊: 中国测试
• 关键词: 去嵌入 TRL校准 T/R阵列自动测试系统 校准准确度 校准效率
• 年，卷（期）: 2021,（7）
• 所属期刊栏目: 测控技术|Measurement and Control Technologies
• 页码范围: 92-98
• 页数: 7页
• 分类号: TN98
• 语种: 中文
• DOI: 10.11857/j.issn.1674-5124.2020070009

摘要

为解决T/R阵列自动测试系统的链路校准准确度和校准效率的难题,提出一种基于TRL(thru,reflect,line)校准技术的链路去嵌入方法,通过建立测试系统的误差模型,并获取测试系统对TRL标准件的测试结果,运用TRL校准算法解算出各个误差项,实现测试系统去嵌入的目的.设计TRL标准件,并在Matlab中实现去嵌入算法,运用该方法对含有嵌入网络的滤波器模型实现去嵌入.去嵌入结果表明:在去嵌入频段内,增益测量误差＜0.2 dB,驻波比测量误差≤0.07,传输相位测量误差≤2°,去嵌入耗时不随T/R组件规模的增大而增加,证明该方法可以提升T/R阵列自动测试系统的校准准确度和校准效率.