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摘要:
功率运算放大器是当前电子领域应用最广泛的器件之一,其制造过程可靠性及因制造引起的失效是导致产品故障的重要因素.探讨一种典型功率运放制造过程出现的失效现象,在分析产品结构基础上对故障样品进行外观检查和性能检验等,找出了引起产品短路失效的原因并给出了相应解决措施.
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文献信息
篇名 一种典型功率运算放大器芯片粘接故障分析及改进
来源期刊 电子制作 学科
关键词 功率运算放大器 超声键合 短路失效
年,卷(期) 2021,(12) 所属期刊栏目 实验研究
研究方向 页码范围 16-18
页数 3页 分类号
字数 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1006-5059.2021.12.007
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研究主题发展历程
节点文献
功率运算放大器
超声键合
短路失效
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子制作
半月刊
1006-5059
11-3571/TN
大16开
北京市
1994
chi
出版文献量(篇)
22336
总下载数(次)
116
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