芯片ATE连通性系统检测法的研究与实现

• 作者: 唐丽 刘相伟 唐昱 邹映涛
• 来源期刊: 电子测试
• 关键词: 连通性 开路/短路 芯片 V93000 ATE 集成电路
• 年，卷（期）: 2021,（1）
• 所属期刊栏目: 测试工具与解决方案|Test tools and Solutions
• 页码范围: 87-90,99
• 页数: 5页
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-8519.2021.01.031

摘要

随着芯片集成度的增加及芯片管脚的增多,芯片封装及测试系统的复杂性也随之提升,传统单一的通断检测已经不能快速定位芯片封装键合和测试系统连接性等故障.为解决上述问题,基于通用的V93000 ATE测试平台,研究和实现了一种ATE连通性系统检测法,该方法包括了三个步骤:PPMU参数测试、Walking Z功能测试和Power-Short电源测试,通过此种系统的连通性检测方法,实现对被测芯片Opens-Shorts故障和测试系统本身故障的快速定位及问题分析.