Al-Mg-Si合金线导电率演变规律与机制

• 作者: 陈庆吟 盛叶弘 李瑞 侯嘉鹏 王强 张哲峰
• 来源期刊: 金属热处理
• 关键词: Al-Mg-Si合金线 退火处理 导电率 晶粒长大 析出相
• 年，卷（期）: 2021,（3）
• 所属期刊栏目: 组织与性能|MICROSTRUCTURE AND PROPERTIES
• 页码范围: 175-180
• 页数: 6页
• 分类号: TG166.3
• 语种: 中文
• DOI: 10.13251/j.issn.0254-6051.2021.03.035

摘要

通过不同温度退火处理模拟架空输电用Al-Mg-Si合金线的热服役环境,对不同退火温度下Al-Mg-Si合金线的导电率演变规律与机制进行了研究.结果表明,Al-Mg-Si合金线的导电率随着退火温度的升高呈现3阶段特征,第一阶段温度为90～150℃,Al-Mg-Si合金线导电率略微增大,缺陷的回复是本阶段Al-Mg-Si合金线导电率增大的原因;第二阶段温度为150～200℃,析出相的长大和固溶原子的析出导致Al-Mg-Si合金线导电率大幅增大;第三阶段温度为200～300℃,晶粒长大是Al-Mg-Si合金线导电率缓慢增大的主要原因.