二维不规则排样背景下的零件像素化表达算法

• 作者: 刘虓 王宇帆 刘嘉敏
• 来源期刊: 锻压技术
• 关键词: 不规则排样 像素化 矢量图 冲突检测 材料利用率
• 年，卷（期）: 2021,（8）
• 所属期刊栏目: 板料成形|SHEET FORMING
• 页码范围: 44-48
• 页数: 5页
• 分类号: TP391.73
• 语种: 中文
• DOI: 10.13330/j.issn.1000-3940.2021.08.008

摘要

针对目前主流的零件表达方式,当零件外形呈现出凹多边形特性且顶点数目较多时,冲突检测算法明显变慢的问题,提出了一种零件像素化表达方法,即在零件包围盒上布置多个方形微粒,然后,通过二维布尔变量数组存储微粒是否被占用的信息,提出了微粒"占用"的判断算法.算例1研究了像素图生成速度与微粒边长和零件外形的关系;算例2则研究了零件像素化程度与排样性能的关系,最后,给出了推荐的微粒边长.推荐微粒边长可令排样计算速度和排样效果取得最佳的平衡.同时,算例2还与商用排样软件SigmaNest进行了对比,实验结果表明,如果使用推荐的微粒边长,本文算法得到的材料利用率高于SigmaNest算法,且计算耗时只有后者的2.8％.