粉末压片X荧光光谱法测定金属化阳极板的硫

• 作者: 刘晓丽 李玉昆 吕铭锦
• 来源期刊: 世界有色金属
• 关键词: X荧光光谱法 金属化阳极板 粉末压片
• 年，卷（期）: 2021,（10）
• 所属期刊栏目: 化学化工|Chemical Engineering
• 页码范围: 109-110
• 页数: 2页
• 分类号: X830
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-5065.2021.10.052

摘要

采用粉末压片法,建立了波长色散X荧光光谱法测定金属化阳极板硫的分析方法,采用实际样品作为标准样品绘制工作曲线,考察了样品磨样时间、样品粒度、压样机压力、基体干扰对样品结果的影响.结果表明,在磨样时间为120s、样品粒度为150目、压样机压力为30t的制样条件下进行样品制备.硫采用经验系数法和镍基体校正法绘制工作曲线,消除基体干扰.对同一样品进行精密度测试,各组分的相对标准偏差RSD在0.68％～1.17％之间,测定了21个样品,所得结果与常规化学分析方法测定值相符.