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一种基于静态形式验证的I/O复用电路高效验证方法
一种基于静态形式验证的I/O复用电路高效验证方法
作者:
段丽莹
胡毅
郝燚
甘杰
冯文楠
唐晓柯
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
摘要:
随着系统级芯片(System on Chip,SoC)中输入/输出(I/O)接口数量和复用功能的不断增加,I/O复用电路的验证变得越来越复杂,并且需要耗费大量时间.本文针对I/O复用电路的特点,提出一种基于静态形式验证的高效验证方法,在验证早期对I/O复用进行了复用功能验证和连接性验证,同时也进行了翻转覆盖率收集.与传统基于动态验证的方法相比,本方法可以将验证时间缩短一半以上,显著提升了设计质量和开发效率.
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文献信息
篇名
一种基于静态形式验证的I/O复用电路高效验证方法
来源期刊
电子世界
学科
关键词
年,卷(期)
2021,(3)
所属期刊栏目
探索与观察
研究方向
页码范围
91-94
页数
4页
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中文
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期刊影响力
电子世界
主办单位:
中国电子学会
出版周期:
半月刊
ISSN:
1003-0522
CN:
11-2086/TN
开本:
大16开
出版地:
北京市
邮发代号:
2-892
创刊时间:
1979
语种:
chi
出版文献量(篇)
36164
总下载数(次)
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