基于均值点展开的单变元降维法在EIT不确定性量化研究中的应用

• 作者: 赵营鸽 李颖 王灵月 崔阳阳 王冠雄
• 来源期刊: 电工技术学报
• 关键词: 电阻抗成像 不确定性量化 单变元降维法 蒙特卡罗模拟 混沌多项式展开
• 年，卷（期）: 2021,（18）
• 所属期刊栏目: 生物电工技术及应用专题
• 页码范围: 3776-3786
• 页数: 11页
• 分类号: TM470.4011
• 语种: 中文
• DOI: 10.19595/j.cnki.1000-6753.tces.200971

摘要

在电阻抗成像(EIT)技术中,介质参数的不确定性会对正问题计算产生影响,进而影响图像重构,因而,对EIT介质参数不确定性量化的研究具有重要的意义.采用四层同心圆模型和二维圆模型作为仿真算例对EIT正问题进行研究,将电导率分布参数作为无相互作用的随机输入变量,使其服从随机均匀分布,基于均值点展开的单变元降维法(UDRM)计算得到边界电极电压的均值、标准差和概率分布等相关统计信息,分析电导率的不确定性对模型输出边界测量电压的影响,并与蒙特卡罗模拟(MCS)法、混沌多项式展开(PCE)法仿真结果进行比较.结果表明,UDRM能够准确高效地处理低维不确定性问题,且在处理高维不确定性问题时能有效缓解"维数灾难"问题.