基于克里金插值的EEG二维成像最优化分析

• 作者: 蔡靖 胡纪锋 刘锋华 蒙坚发
• 来源期刊: 实验室研究与探索
• 关键词: 脑电信号 二维成像 普通克里金插值 半变异函数
• 年，卷（期）: 2021,（5）
• 所属期刊栏目: 专题研讨——虚拟仿真技术(93)|Special Topic Discussion——Virtual Simulation Experiment(93)
• 页码范围: 123-128
• 页数: 6页
• 分类号: TP371.76
• 语种: 中文
• DOI: 10.19927/j.cnki.syyt.2021.05.027

摘要

脑电信号(EEG)由大脑皮层神经细胞产生,蕴含着大量的生理与疾病信息,脑电成像在临床医学方面有着极为广泛的应用.采用基于高斯模型的半变异函数普通克里金插值方法进行脑电成像研究,考虑实际情况下块金值C0是不为零的,当样本间距h固定时,在拟合协方差函数基础上获得变差距离a与块金值C0的函数关系,结合普通克里金插值均方差函数获得均方差趋近于零时a与C0的最优解.利用最优情况下的a与C0进行插值,实现EEG二维成像最优化,适用于有关脑疾病的临床医学分析与研究.