交流电压下绝缘子表面电荷对闪络电压影响的主导因素

• 作者: 李大雨 张贵新 王天宇
• 来源期刊: 高电压技术
• 关键词: 主导因素 表面电荷 闪络 种子电荷 电场畸变
• 年，卷（期）: 2021,（12）
• 所属期刊栏目: 电介质与电气绝缘|Dielectric and Electrical Insulation
• 页码范围: 4199-4206
• 页数: 8页
• 语种: 中文
• DOI: 10.13336/j.1003-6520.hve.20201788

摘要

表面电荷积聚是造成绝缘子沿面绝缘强度下降的一个重要原因,影响着电力系统的安全可靠运行.为此采用试验和仿真相结合的方法,通过在绝缘子表面预置电荷的方式,区分电荷消散初期和消散一段时间以后2种情况进行闪络试验,研究交流电压作用下电荷存在对闪络电压影响中起主导作用的因素.结果表明,该主导因素随电荷消散过程发生变化:在电荷消散初期,绝缘子表面浅陷阱中电荷脱陷对闪络电压影响起主导作用,它可以使闪络电压下降约34％;电荷消散一段时间后,深陷阱中电荷引起的电场畸变成了影响闪络电压的主导因素,然而这种影响具有较大的随机性,最大可以使闪络电压大约下降30％.研究还表明,交流电压下,无论何种分布特点的电荷都会造成闪络电压的降低,这是与直流电压下的不同之处.