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摘要:
高纯氧化铝作为制作航空功能器件、精密仪表和集成电路基板等重要元件,其中的杂质种类和含量,直接影响元件性能,因此研究高纯氧化铝中杂质元素的测定方法.研究准备了大量实验仪器与实验试剂,通过选择不同的仪器高频功率、不同的铝基体浓度和酸度,设置三个阶段的实验测定条件.实验结果:在采用1050w高频功率下,各元素的光谱强度和信背比达到最佳状态,测定的杂质结果最优;不同铝基体浓度会对光谱线强度产生微弱影响;不同盐酸酸度会对光谱线强度产生微弱影响.由此可见,测定高纯氧化铝中的杂质元素时,不考虑铝基体浓度和盐酸酸度,通过控制高频功率,得到更为准确的测试结果.
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文献信息
篇名 高纯氧化铝中杂质元素的测定方法研究
来源期刊 世界有色金属 学科
关键词 高纯氧化铝 杂质元素 元素谱线 信背比 谱线强度
年,卷(期) 2021,(9) 所属期刊栏目 化学化工|Chemical Engineering
研究方向 页码范围 101-102
页数 2页 分类号 TH843
字数 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1002-5065.2021.09.050
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期刊影响力
世界有色金属
半月刊
1002-5065
11-2472/TF
大16开
北京市海淀区苏州街31号9层
2-642
1986
chi
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