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一阶回转曲线图谱法及其在HfO2基铁电薄膜极化翻转行为研究中的应用
一阶回转曲线图谱法及其在HfO2基铁电薄膜极化翻转行为研究中的应用
作者:
石志鑫
周大雨
李帅东
徐进
Uwe Schr?der
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
一阶回转曲线图谱法
铁电薄膜
二氧化铪
极化翻转
摘要:
铁电材料的极化翻转特性是铁电存储器实现"0,1"信息读写的物理基础,因此极化翻转的稳定性直接决定器件的服役可靠性.在交变电场循环载荷下,HfO2基新型铁电薄膜存在唤醒(wake-up)、疲劳(fatigue)和极化翻转电流峰分裂(split-up)等极化翻转不稳定现象,严重制约了其在铁电存储器件中的实际应用.探明极化翻转行为复杂演变的微观机制,从而提出优化稳定性的可行措施是目前工作的重难点,但是基于传统测试手段的研究难以解决上述问题.一阶回转曲线图谱法被誉为迟滞系统研究中的"指纹鉴定",已在磁性材料特征参数演变规律的解析中得到成功应用.本文首先介绍一阶回转曲线图谱法的基本原理和实现方法,接着以Si掺杂HfO2铁电薄膜为实验对象,利用该方法获得了薄膜内电畴极化翻转特征临界场的分布密度随外场加载历史的演变,为理解铁电材料的极化翻转行为提供了重要的微观物理机理信息.
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文献信息
篇名
一阶回转曲线图谱法及其在HfO2基铁电薄膜极化翻转行为研究中的应用
来源期刊
物理学报
学科
关键词
一阶回转曲线图谱法
铁电薄膜
二氧化铪
极化翻转
年,卷(期)
2021,(12)
所属期刊栏目
凝聚物质:电子结构、电学、磁学和光学性质|CONDENSED MATTER: ELECTRONIC STRUCTURE, ELECTRICAL,MAGNETIC, AND OPTICAL PROPERTIES
研究方向
页码范围
346-356
页数
11页
分类号
字数
语种
中文
DOI
10.7498/aps.70.20210115
五维指标
传播情况
被引次数趋势
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引文网络
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共引文献
(0)
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(1)
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参考文献(1)
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2021(0)
参考文献(0)
二级参考文献(0)
引证文献(0)
二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
一阶回转曲线图谱法
铁电薄膜
二氧化铪
极化翻转
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
物理学报
主办单位:
中国物理学会
中国科学院物理研究所
出版周期:
半月刊
ISSN:
1000-3290
CN:
11-1958/O4
开本:
大16开
出版地:
北京603信箱
邮发代号:
2-425
创刊时间:
1933
语种:
chi
出版文献量(篇)
23474
总下载数(次)
35
总被引数(次)
174683
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