基于STM32的放大器参数及故障测试仪

• 作者: 罗骏
• 来源期刊: 电子测试
• 关键词: 运算放大器 电路特性测试 自动化测
• 年，卷（期）: 2021,（13）
• 所属期刊栏目: 设计与研发|Design and development
• 页码范围: 19-22
• 页数: 4页
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-8519.2021.13.005

摘要

通过设计对运算放大器做一系列自动化测试,获取通用放大器特性参数及进行故障测试,能够测试通用性放大器的基本参数和特性、测试特定的一些故障,对放大器在电子领域、功放领域都有着很大的应用辅助.