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基于降采样和改进Shi-Tomasi角点检测算法的PCB图像拼接
基于降采样和改进Shi-Tomasi角点检测算法的PCB图像拼接
作者:
胡涛
茅健
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
大型PCB图像
图像拼接
Shi-Tomasi角点
暴力匹配
RANSAC算法
摘要:
针对大型多重复单元PCB图像拼接耗时长、拼接错误率高等问题,提出了一种快速鲁棒的图像拼接方法.对采集到的高分辨率PCB图像进行降采样,基于人工选点精准获取含重叠区域的图像单元作为配准区域;引入抑制半径的方法对Shi-Tomasi角点检测算法进行改进,使提取出的区域特征点分布更加均匀;使用暴力匹配方式分别对区域特征点进行粗匹配并通过RANSAC算法剔除误匹配点对后获得配准系数矩阵;结合仿射变换公式推导计算出原图像的配准系数矩阵,根据配准系数矩阵对待拼接的图像进行融合,得到完整的PCB拼接图像.实验结果表明,所提出的PCB图像拼接方法,加快了PCB图像拼接的速度同时也提高了特征点匹配精度,在对图像降采样8倍下,改进的Shi-Tomasi算法较传统的Shi-Tomsi算法和Harris算法在匹配正确率上分别提高了7.8%和4.0%,验证了该方法的可行性.
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文献信息
篇名
基于降采样和改进Shi-Tomasi角点检测算法的PCB图像拼接
来源期刊
电子测量技术
学科
工学
关键词
大型PCB图像
图像拼接
Shi-Tomasi角点
暴力匹配
RANSAC算法
年,卷(期)
2021,(22)
所属期刊栏目
信息技术及图像处理|Information Technology and Image Processing
研究方向
页码范围
134-140
页数
7页
分类号
TP391.41|TN41
字数
语种
中文
DOI
10.19651/j.cnki.emt.2107195
五维指标
传播情况
被引次数趋势
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(/年)
引文网络
引文网络
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共引文献
(0)
参考文献
(0)
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2021(0)
参考文献(0)
二级参考文献(0)
引证文献(0)
二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
大型PCB图像
图像拼接
Shi-Tomasi角点
暴力匹配
RANSAC算法
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子测量技术
主办单位:
北京无线电技术研究所
出版周期:
半月刊
ISSN:
1002-7300
CN:
11-2175/TN
开本:
大16开
出版地:
北京市东城区北河沿大街79号
邮发代号:
2-336
创刊时间:
1977
语种:
chi
出版文献量(篇)
9342
总下载数(次)
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