辐照应力环境下CPU的可靠性分析方法

• 作者: 周光来 郑文君
• 来源期刊: 电工技术
• 关键词: 辐照 CPU 可靠性
• 年，卷（期）: 2021,（14）
• 所属期刊栏目: 新能源系统与设备|New Energy Systems and Equipment
• 页码范围: 68-70
• 页数: 3页
• 分类号: TM623
• 语种: 中文
• DOI: 10.19768/j.cnki.dgjs.2021.14.023

摘要

针对辐照环境下的CPU提出了利用Simulink仿真获得大量数据样本后进行可靠性分析的方法,用于评价各辐照强度下CPU的可靠度等相关指标.该方法有效解决了CPU辐照环境下退化数据不足的问题,通过试验数据结合仿真结果给出了CPU板在各辐照应力下的可靠度,通过适当调整随机变量取值范围移动速度,可更精确地给出CPU各辐照剂量处的误码率.