基于NX二次开发的特征识别与提取

• 作者: 于洋
• 来源期刊: 电子世界
• 年，卷（期）: 2021,（13）
• 所属期刊栏目: 技术交流
• 页码范围: 200-201
• 页数: 2页
• 语种: 中文

摘要

本文论述了NX二次开发的方法,开发了与NX界面一体化的特征识别与提取功能模块.通过调用NX Open API函数,实现了箱体零件模型中几何信息的获取;预先建立自定义的加工特征映射库,引入解决子图同构问题的VF2算法,实现了箱体零件模型中特征的识别与提取.最后,通过实例验证了此功能模块的有效性.