半导体材料特性参数自动测量研究—以二极管为例

• 作者: 邓自强
• 来源期刊: 电子测试
• 关键词: 二极管 自动测量 伏安特性
• 年，卷（期）: 2021,（22）
• 所属期刊栏目: 理论与算法|The theory and algorithm
• 页码范围: 65-67
• 页数: 3页
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-8519.2021.22.024

摘要

半导体材料是一类具有半导体性能、可用来制作半导体器件和集成电路的电子材料,对现代社会的生产和科技发展有着深远的意义.二极管是最早诞生的半导体器件之一,常用于实现对交流电整流、调制信号检波、限幅等.其特性参数是衡量系统稳定度和准确性的一项重要指标.因此,对二极管各项参数的测试与检测至关重要.本文设计了一种性能优异、易操作的半导体参数自动测试仪,可对二极管的伏安特性进行分析及显示,结合电路设计实现正向导通电压、反向击穿电压等参数的精确测量.该测试仪结合小电流恒流源、继电器、数控模块以及单片机对电路实现全方位精准操控,并准确显示二极管伏安特性曲线,具有空间小、易操作、特性参数精准、实用性强等优势.