TFT-LCD工艺中黄斑不良的成因机理研究与改善

• 作者: 张显 陈帅 郭剑伟 贺新钢 王文强 陈卓 魏永辉
• 来源期刊: 电子世界
• 年，卷（期）: 2021,（22）
• 所属期刊栏目: 探索与观察
• 页码范围: 32-33
• 页数: 2页
• 语种: 中文

摘要

在TFT-LCD量产中,会出现各种Mura类不良,本文为解决在生产过程中出现的边角黄斑不良,首先对可能造成黄斑不良的工艺进行了大量的排查,最后锁定该不良出现在Cell成盒阶段.通过拆盒分析发现框胶内存在异物,异物将相应位置的Gap撑高,液晶填充增大,红光透过率提高,蓝绿光透过率降低且蓝光透过率降低比绿光更大,不良宏观显示发黄(黄斑不良).