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摘要:
本文提出了一种基于IEEE1149.1标准的JTAG控制器模块的验证平台,该平台使用UVM(Universal Verification Methodology)验证方法学.设计了受约束的随机激励和定向激励使得验证更加完备.验证结果表明,已覆盖所有测试点,达到验证目的.
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IEEE1149
JTAG
Nexperia
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文献信息
篇名 UVM的JTAG控制器模块验证
来源期刊 电子世界 学科
关键词
年,卷(期) 2021,(17) 所属期刊栏目 探索与观察
研究方向 页码范围 23-24
页数 2页 分类号
字数 语种 中文
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电子世界
半月刊
1003-0522
11-2086/TN
大16开
北京市
2-892
1979
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