双能射线透照成像物质识别曲线的建立

• 作者: 宋云峰
• 来源期刊: 大科技
• 关键词: 双能量 X射线探测 识别曲线 原子序数
• 年，卷（期）: 2021,（24）
• 所属期刊栏目: 工艺与设备
• 页码范围: 205-206
• 页数: 2页
• 分类号: TH74
• 语种: 中文

摘要

根据单双能量透照技术应用需求,分析入射线能量与原子序数物质质量衰减系数差异,即基于双能量模式对同原子序数物质,在低能和高能X射线透照下,其吸收程度上存在显著区别,由此依分析赖高低能灰度值,可有效判断不同物质厚度、组成,以及对不同物体实施准确区分.基于此,本文以有机玻璃板及铝板为基材,对物质分类识别边界曲线进行探讨和确定,并通过黑火药验证识别曲线有效.