平板缺陷对单一模态lamb波传播的影响

• 作者: 卢鸿宇
• 来源期刊: 中国设备工程
• 关键词: lamb波 平板 无损检测 缺陷类型
• 年，卷（期）: 2021,（6）
• 所属期刊栏目: 工艺流程与应用
• 页码范围: 160-163
• 页数: 4页
• 分类号: TP212
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-0711.2021.06.093

摘要

探究平板内不同类型的缺陷对单一模态的lamb波传播的影响.编写程序绘制lamb波频散曲线,利用频散曲线找到激励单一模态lamb波的频率区间.根据lamb波传播时质点的振动方式找到激励不同模态lamb波的方法,根据仿真结果计算lamb波群速度并验证lamb波类型.对具有不同缺陷的平板进行建模并给予激励进行有限元计算,探究平板中不同类型的缺陷对单一模态的lamb波的影响.