1～110GHz近远场复合天线测试系统设计

• 作者: 张文涛
• 来源期刊: 电子世界
• 年，卷（期）: 2021,（14）
• 所属期刊栏目: 技术交流
• 页码范围: 180-181
• 页数: 2页
• 语种: 中文

摘要

随着天线频率向太赫兹频段拓展,高频段天线测试系统需求越来越紧迫,对于天线测试来说,通常有远场测试、紧缩场测试、近场测试三大类测试方法.远场测试系统优点在于测试速度快,不用经过电磁波转换和数据转换计算,测试精度高.但远场测试时,测试距离必须满足远场条件,太赫兹频段空间损耗高,对应频段的功放、低噪放增益小,由此带来的问题是系统动态范围小.