国产锁相环集成电路74HC4046SN的稳定性分析与应对措施

• 作者: 张晓龙
• 来源期刊: 电子世界
• 年，卷（期）: 2021,（14）
• 所属期刊栏目: 技术交流
• 页码范围: 186-187
• 页数: 2页
• 语种: 中文

摘要

当前在国产化芯片日益普及的情况下,许多国产设备大量采用了国产化芯片,给我们民族工业带来了进步和发展,国产化芯片质量品质在近几年也得到了大步提升,为大国装备制造的质量品质奠定了基础. 国产芯片的使用过程中也会出现各种各样的问题,要根据问题特点进行认真分析,以便提高整机设备的可靠性,下面就使用我国某研究所生产的集成电路74HC4046SN设备的低温可靠性进行分析总结.