几种常见天线远场测试系统对比分析

• 作者: 周辉 李涛 刘建威
• 来源期刊: 电子世界
• 年，卷（期）: 2021,（23）
• 所属期刊栏目: 探索与观察
• 页码范围: 55-56
• 页数: 2页
• 语种: 中文

摘要

随着天线技术研究的深入,天线测试技术也在快速发展.在上世纪40年代有关天线的基本测试方法和问题得到了解决;1950年,美国Antlab和ScientificAtlanta(S-A)两个公司已开发出应用在天线远场测量的设备和仪器;1960年,天线测试的理论基础快速提升,关于天线测试技术的文献大量涌现;1990年后,天线测试技术有了较快的发展,通过硬件的改进及软件的更新换代,使得天线测试在精度和效率上都有大幅度的改进,同时测试成本随着自动化的发展在不断的降低.目前国际上提供成熟天线测量系统的公司主要有美国的NSI-MI,MIT,以色列的ORBIT,法国的Satimo等公司.国内在天线近场和远场测量系统方面起步比较晚.直到上世纪70年代末80年代初我国才颁布测试方法的标准,并逐步对天线测试设备及技术开始研究.随着自动化水平和计算机技术的发展,在2000年之后远场和近场测试系统的自动化技术逐渐成熟,部分高校开发了性能完善的基于总线的天线远场和近场自动测试系统.