基于宏孔硅的CsI(Tl)像素化X射线闪烁屏转换效率模拟的研究

• 作者: 李怡霖
• 来源期刊: 数码设计（下）
• 关键词: 宏孔硅 闪烁屏 转换效率 CsI(Tl)X-ray
• 年，卷（期）: 2021,（2）
• 所属期刊栏目: 理论前沿技术
• 页码范围: 296-297
• 页数: 2页
• 分类号: TL816
• 语种: 中文

摘要

本文以Geant4软件为基础模拟研究了基于宏孔硅的像素化X射线闪烁屏的通道深度、通道孔径、通道内壁结构等因素与其转换效率的关系.模拟结果表明:随着通道深度、孔径增加,转换效率越来越高;随着通道内壁反射率的增加,转换效率也增加.