X射线荧光光谱测定银铜合金中的银——二元比例法

• 作者: 陈守剑 王黎明 黄近丹 林园
• 来源期刊: 福建冶金
• 关键词: X射线荧光光谱法 银铜合金 二元比例法
• 年，卷（期）: 2022,（1）
• 所属期刊栏目: 其他
• 页码范围: 45-47
• 页数: 2页
• 语种: 中文

摘要

本文建立了X射线荧光光谱测定银铜合金中的银，选择不同的标准校准曲线：直接校正法和二元比例法，比较了两种实验结果。实验表明二元比例法优于直接校正法，方法稳定性好、抗干扰能力强、相对标准偏差（RSD）小于0.31%，检测结果与原子吸收光谱法（AAS）一致。