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电子产品可靠性与环境试验期刊
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辐射发射全电波暗室测试方法分析
辐射发射全电波暗室测试方法分析
作者:
张峰
戚露兴
吴淑忠
原文服务方:
电子产品可靠性与环境试验
辐射发射
全电波暗室
半电波暗室
电磁兼容性
标准
摘要:
目前进行辐射发射测试的低频(30 MHz~1 GHz)部分主要在半电波暗室中进行,而进行1 GHz以上的高频辐射发射测试时,还需要人工在半电波暗室地面上铺设吸波材料,这中间的搬移不仅会耗费人力,延长测试时间,而且极易造成吸波材料的损坏。若是能在全电波暗室中实现全频段的辐射发射测试,不仅能够缓解半电波暗室的测试压力,而且可以有效地缩短测试时间,避免人工搬移吸波材料造成的损耗。通过分析标准中对于在全电波暗室中进行辐射发射测试的详细要求,并通过实测比对验证,总结出了全电波暗室辐射发射的测试方法。
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内容分析
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关键词热度
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文献信息
篇名
辐射发射全电波暗室测试方法分析
来源期刊
学科
工学
关键词
辐射发射
全电波暗室
半电波暗室
电磁兼容性
标准
年,卷(期)
2022,(4)
所属期刊栏目
计量与测试技术
研究方向
页码范围
101-106
页数
5页
分类号
TN06
字数
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1672-5468.2022.04.018
五维指标
传播情况
被引次数趋势
(/次)
(/年)
版权信息
全文
全文.pdf
引文网络
引文网络
二级参考文献
(0)
共引文献
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参考文献
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2022(0)
参考文献(0)
二级参考文献(0)
引证文献(0)
二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
辐射发射
全电波暗室
半电波暗室
电磁兼容性
标准
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子产品可靠性与环境试验
主办单位:
工业和信息化部电子第五研究所(中国电子产品可靠性与环境试验研究所)
出版周期:
双月刊
ISSN:
1672-5468
CN:
44-1412/TN
开本:
大16开
出版地:
广州市增城区朱村街朱村大道西78号
邮发代号:
创刊时间:
1962-01-01
语种:
中文
出版文献量(篇)
2803
总下载数(次)
0
总被引数(次)
9369
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