脉冲 X 射线能谱测量,对于强激光装置中的物理诊断以及辐射防护具有重要意义。脉冲X射线具有脉冲时间短、注量大、能谱范围宽等特点,常规脉冲测量技术往往受到探测器死时间、 堆积效应的限制而无法适用。目前多个国家都建立了强激光装置的研究平台,并开展X射线能谱测量相关研究。本文首先介绍了基于吸收法原理且适用于中低能脉冲 X 射线的测量方法:Ross Pair 法和衰减法。然后针对这两种方法从5个方面(探测器结构、滤片材料、探测介质选择、散射控制以及解谱方法)综述了脉冲 X 射线吸收谱仪的研究进展,并分析了各自的适用性。目前激光装置中脉冲 X 射线能谱的测量还面临着能量分辨率不理想、结果不确定度无法量化和被动式能谱测量操作不便等问题。 随着激光装置的不断升级,脉冲X 射线注量以及打靶频次将不断增加, 对探测器的耐辐照性能以及响应速度提出了更高的要求。