基于系统空间结构约束的多线结构光条纹中心线提取方法

• 作者: 毛雪忆 李文国
• 来源期刊: 电子科技
• 学科: 工学
• 关键词: 线结构光 环境光 条纹中心线 系统空间结构约束 多线结构光条纹 偏移量 偏移系数 平面拟合 曲面拟合
• 年，卷（期）: 2022,（3）
• 页码范围: 16-24
• 页数: 9页
• 分类号: TN249|TN99
• 语种: 中文
• DOI: 10.16180/j.cnki.issn1007-7820.2022.03.003

摘要

线结构光测量系统容易受到环境光干扰从而影响条纹中心线的提取.通过对系统空间结构约束的分析,文中提出一种多线结构光条纹中心线的提取方法.该方法分为标定和测量两个阶段,在标定阶段求出中心线的偏移量和偏移系数;在测量阶段中,分别在有环境光和无环境光时求得条纹中心线的三维世界坐标.通过平面和曲面拟合实验测量精度,并与Steger算法进行对比.实验结果表明,当存在环境光时,斜平面拟合得到的误差值小于0.007 mm,曲面拟合得到的百分比相对误差小于1.2％;无环境光时,圆柱体高度拟合相对误差小于0.7％,说明本文算法精度优于Steger算法.