双曲面弯晶X射线分析仪器及应用进展

• 作者: 程大伟 刘明博 沈学静 贾云海
• 来源期刊: 冶金分析
• 学科: 化学
• 关键词: 弯晶X射线 晶体衍射 曲面晶体 单色 全聚焦
• 年，卷（期）: 2022,（1）
• 页码范围: 10-17
• 页数: 8页
• 分类号: O657.34
• 语种: 中文
• DOI: 10.13228/j.boyuan.issn1000-7571.011498

摘要

弯晶X射线技术历经近百年发展,已成为当今X射线荧光光谱(XRF)技术的主要研究方向之一.始于晶体X射线衍射技术,几代学者前仆后继从概念设想、理论推导,推动着弯晶X射线技术的进步;成于人工晶体和曲面晶体加工工艺的成熟,从平面晶体、柱面晶体、双曲面晶体到全聚焦双曲面晶体;拓于微探针分析、实验室能谱仪器、临床成像等应用,双曲面全聚焦弯晶能够将照射到晶体上、满足Bragg定律和罗兰圆结构的X射线单色化并全聚焦,弯晶X射线技术和仪器性能获得了本质提升.文章回顾了弯晶X射线技术和仪器的研制和应用历程,追寻前人在晶体及仪器研制方面的宝贵经验,探讨了未来弯晶X射线仪器的发展方向.