基于局放与X射线成像检测的GIS缺陷联合诊断及应用

• 作者: 张国宝 赵恒阳 杨为 许渊 宋东波 吴正阳 曾德华
• 来源期刊: 高压电器
• 关键词: 局部放电 X射线检测 GIS缺陷 联合诊断
• 年，卷（期）: 2022,（9）
• 所属期刊栏目: 技术讨论
• 页码范围: 197-202
• 页数: 5页
• 语种: 中文
• DOI: 10.13296/j.1001⁃1609.hva.2022.09.025

摘要

GIS设备因其外壳尺寸厚大、内部结构复杂以及全封闭性等特点，各类潜伏性缺陷准确预警难度大，成为输变电设备运维领域的突出难题。现有各类检测技术存在短板不一，应对突发性或潜伏性缺陷的效果欠佳。文中提出了一种基于局部放电检测与X射线成像的GIS缺陷联合诊断方法，利用局放检测手段对GIS缺陷进行筛查，并采用X射线成像技术对各类缺陷进行准确定性、定位。利用该方法累计成功定位42处在役GIS设备的缺陷及异常，有效提高了GIS缺陷的检出率与准确率，取得了良好的应用成效。