某型霍尔开关集成电路贮存特性研究

• 作者: 李坤兰 胡湘洪 王春辉 张博
• 来源期刊: 环境技术
• 学科: 工学
• 关键词: 霍尔开关集成电路 贮存试验 敏感参数 环境适应性
• 年，卷（期）: 2022,（1）
• 所属期刊栏目: 技术专栏|TECHNICAL COLUMN
• 页码范围: 87-91
• 页数: 5页
• 分类号: TP391.99
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-7204.2022.01.023

摘要

为研究某型霍尔开光集成电路的贮存特性,在寒温、亚湿热-入海口、亚湿热、热带海洋等4种气候下的库房开展了248个月的贮存试验,监测了BH-L、BL-H、BH、VOL、ICC等5个性能参数.分析研究了性能参数退化特征及4种气候对性能参数影响的差异特点.结果显示VOL和ICC是贮存敏感参数,VOL在贮存67个月后开始出现显著退化;4种气候对BH-L、BL-H、BH、ICC的影响有显著差异.BH-L、BL-H最早出现显著差异的贮存时间是18个月.最后得出VOL是决定其贮存寿命的关键参数,BH-L、BL-H是影响其环境适应性的关键参数.