Rietveld全图拟合法定量分析伊利石矿的精确度及误差来源

• 作者: 陈爱清 张立雪 李强 朱建喜 李尚颖 何宏平
• 来源期刊: 岩矿测试
• 学科: 地球科学
• 关键词: 伊利石 Rietveld全图拟合法 精确度 误差来源 X射线衍射法 结构精修
• 年，卷（期）: 2022,（2）
• 所属期刊栏目: 岩石矿物分析|Rock and Mineral Analysis
• 页码范围: 291-299
• 页数: 9页
• 分类号: P575.5
• 语种: 中文

摘要

伊利石是一种重要的矿产资源,准确获得矿石中矿物组成和含量具有重要的理论和实际意义.Rietveld全图拟合法采用整个衍射图进行分析,具有较高的准确度.然而由于缺少纯的伊利石样品,目前对于该方法在分析伊利石矿样的精确度和误差来源尚不清楚.本文采用Rietveld全图拟合法对人工配制和天然的伊利石典型矿样进行了分析和计算,并与X射线荧光光谱(XRF)分析结果进行了对比,探讨了该方法的精确度及产生误差的因素.结果表明:人工配制的伊利石-石英二元混合物绝对误差范围为-0.9％～0.9％;伊利石-石英-钠长石三元混合物绝对误差范围为-1.9％～1.6％;伊利石-石英-钠长石-方解石-高岭石多元混合物绝对误差范围-2.3％～1.6％.天然伊利石矿样的Rietveld定量结果与XRF分析结果具有很好的一致性.表明该方法在分析伊利石矿样中具有较高的精确度,误差来源主要受伊利石结构模型、各物相中原子热振动参数Uiso取值合理性,以及择优取向等因素的影响.因此,在实际分析伊利石矿样时,建议根据实际情况选择合理的矿物结构模型,原子热振动Uiso取值应参考文献进行合理设定,制备试样应尽量减弱择优取向.