一种数字芯片故障检测仪设计

• 作者: 华国环 徐瀚文 桑春洋 张文锋
• 来源期刊: 实验室研究与探索
• 学科: 工学
• 关键词: 数字逻辑芯片 静电放电保护 故障字典 检测故障
• 年，卷（期）: 2022,（1）
• 所属期刊栏目: 仪器设备研制与开发|R & D of Instruments and Apparatus
• 页码范围: 80-84,100
• 页数: 6页
• 分类号: TP273
• 语种: 中文
• DOI: 10.19927/j.cnki.syyt.2022.01.016

摘要

设计了一款数字芯片故障检测仪,该检测仪能够方便、快捷地分析芯片的故障,并准确定位芯片的故障引脚.所设计的检测仪利用芯片内部各引脚的静电泄放保护机制,配合霍尔电流线圈检测芯片的短路和开路故障.同时根据芯片的功能定义,由MCU产生相应的激励信号,通过芯片的输出响应是否正确判断其有无逻辑故障,并且通过电脑端和液晶屏实时显示检测结果.测试结果表明,该检测仪的准确率高达99.6％,待机功耗只有0.36 W,具有小型化便携式特点.