电子测试系统的硬件通用设计

• 作者: 刘飞
• 来源期刊: 电子测试
• 关键词: 通用测试 FPGA 微波测试
• 年，卷（期）: 2022,（2）
• 所属期刊栏目: 设计与研发|Design and development
• 页码范围: 24-25
• 页数: 2页
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-8519.2022.02.008

摘要

在电子产品多品种、小批量的背景下,给所有产品逐一构建测试环境,不仅不经济、而且研制生产进度也不允许.构建一种通用的测试设备就成了研究的重点.本文探讨测试系统中数字板卡的通用设计.