电化学膨胀计联用现场X-射线衍射表征螺环季铵盐插嵌石墨负极

• 作者: 陈聪聪 李家玉 黄玉豪 张磊 王云举 王宏宇
• 来源期刊: 分析化学
• 关键词: 电化学膨胀计 原位X-射线衍射 螺环季铵盐 石墨嵌层化合物
• 年，卷（期）: 2022,（3）
• 所属期刊栏目: 研究报告|Review and Progress
• 页码范围: 413-423
• 页数: 11页
• 语种: 中文
• DOI: 10.19756/j.issn.0253-3820.211138

摘要

以活性炭/石墨电容器为平台,通过电化学膨胀计(ECD)和原位X射线衍射(XRD)技术,对螺环季铵盐阳离子(SBP+)电化学插嵌不同石墨负极过程中的膨胀现象进行了研究.ECD能准确监测石墨电极的宏观厚度变化,而原位XRD可以实时探测石墨电极微观晶体结构的变化.通过两者数据相互对照,发现微观尺度上因离子插嵌导致的石墨XRD数据非常接近(晶格膨胀程度为56％ ～59％),但在宏观上却展现出截然不同的膨胀现象,大颗粒片层状石墨电极表现出更大幅度的膨胀(12％),而小粒径的片层状石墨和球状石墨电极的膨胀幅度却很小(5％ ～6％).通过扫描电子显微镜观测发现,造成此现象的原因与石墨形貌结构以及其在集流体上的排列密切相关.大颗粒片层状石墨结构和排列上的高度有序性导致电极膨胀相对更大,而小粒径片层石墨杂乱的排列以及天然球状石墨独特的结构会使膨胀向各个方向分散,造成整体膨胀幅度更小.