从聚酰亚胺单分子链电荷陷阱特性的改变探讨体材料的沿面放电现象

• 作者: 李亚莎 夏宇 刘世冲 瞿聪
• 来源期刊: 物理学报
• 关键词: 密度泛函理论 陷阱 激发态 沿面放电
• 年，卷（期）: 2022,（5）
• 所属期刊栏目: 核物理学|NUCLEAR PHYSICS
• 页码范围: 113-122
• 页数: 10页
• 语种: 中文
• DOI: 10.7498/aps.71.20211611

摘要

沿面放电是破坏绝缘系统性能的原因之一.聚酰亚胺常用于高频电力设备的气-固绝缘中,为此利用密度泛函理论,从原子分子层面探讨了在外电场下聚酰亚胺及其受极性基团OH–影响后的单分子链结构、能级与态密度、静电势、激发态等微观参数对陷阱形成以及沿面放电的影响.结果 表明,外电场下,聚酰亚胺分子结构卷曲,偶极矩增加,易于积聚电荷形成空间电荷中心,尤属引入极性基团OH–后变化较明显;聚酰亚胺分子中,苯环区域形成空穴陷阱,酰亚胺环区域形成电子陷阱,且电子陷阱能级的数量较多,其中空间电荷陷阱深度随外电场的增加逐渐变深;聚酰亚胺分子在引入极性基团OH–后激发能降低,使得分子内部的电子变得容易被激发;电子与空穴的空间分离度随电场增加而降低,利于空穴与电子的复合而发出光子.