640×512小型化红外探测器杜瓦组件可靠性研究

• 作者: 熊雄 段煜 胡明灯 李锐平 杜宇 毛剑宏
• 来源期刊: 红外技术
• 学科: 工学
• 关键词: 红外探测器 杜瓦组件 小型化 可靠性
• 年，卷（期）: 2022,（1）
• 所属期刊栏目: 材料与器件|MATERIALS & DEVICES
• 页码范围: 89-95
• 页数: 7页
• 分类号: TN215
• 语种: 中文

摘要

在SWaP3(Size,Weight,and Power,Performance and Price)概念的驱使下,第三代制冷红外探测器向着高性能、小型化和轻量化的方向发展.作为军用核心电子元器件,制冷红外探测器的可靠性成为研究的重点.以浙江珏芯微电子有限公司所研制的640×512/15μm小型化杜瓦组件为研究对象,开展了系统性的可靠性研究与试验,涉及到力学、热力学、多余物和真空寿命四个维度.经各项可靠性试验后,640×512/15μm小型化杜瓦组件的性能保持良好,该结果表明此杜瓦组件在总体上具有较高的可靠性,能够满足常规军事应用需求.