一种集成电路防反插测试技术

• 作者: 刘尊建 陈锋
• 来源期刊: 集成电路应用
• 学科: 工学
• 关键词: 集成电路测试 反插检测 防反插测试 防反插加电
• 年，卷（期）: 2022,（1）
• 所属期刊栏目: 工艺与制造|Process and Fabrication
• 页码范围: 46-48
• 页数: 3页
• 分类号: TN407
• 语种: 中文
• DOI: 10.19339/j.issn.1674-2583.2022.01.015

摘要

阐述一种集成电路防反插测试技术,该技术通过检测集成电路引脚之间的阻抗来判断集成电路的插装状态.根据对集成电路插装状态的检测结果,自动控制是否对集成电路加电测试.