磁性测厚仪的测量系统分析

• 作者: 杨志业 李阳 王进军 耿莽河 郭燕
• 来源期刊: 电镀与涂饰
• 学科: 工学
• 关键词: 镀层厚度 磁性法 测量系统能力 基体粗糙度 校准 读数
• 年，卷（期）: 2022,（4）
• 所属期刊栏目: 分析测试技术|Analysis & Testing Technology
• 页码范围: 295-297
• 页数: 3页
• 分类号: TH821|TQ153.1+7
• 语种: 中文
• DOI: 10.19289/j.1004-227x.2022.04.013

摘要

根据测量系统分析方法,在镀层厚度为7.6～15.2μm的条件下对某磁性测厚仪的测量系统能力进行评估,并考察了基体粗糙度、校准方法和结果统计方法对测量系统能力的影响.结果表明,基体粗糙度(Ra)小于1.6μm,采用两点校准(含零点),并以ASTM B499-09标准规定的舍点法进行统计时,测量系统能力较高,但仍不满足精确性公差比(P/T)小于30％的要求.