保偏光纤拍长与折射率测量技术研究

• 作者: 赵耀 高业胜 韩正英 费丰
• 来源期刊: 计量与测试技术
• 学科: 工学
• 关键词: 保偏光纤 拍长 白光干涉 折射率 数字全息显微成像
• 年，卷（期）: 2022,（3）
• 所属期刊栏目: 计量仪器科研与实践|Research and Practice of Measuring Instruments
• 页码范围: 20-25
• 页数: 6页
• 分类号: TN929.1
• 语种: 中文
• DOI: 10.15988/j.cnki.1004-6941.2022.3.006

摘要

拍长和折射率是表征保偏光纤产品性能的重要指标,随着保偏光纤在光纤通信和光纤传感等领域的广泛应用,对拍长和折射率参数的准确测量十分重要.基于白光干涉技术研制了保偏光纤拍长测量装置,通过测量保偏光纤上两个应力点之间的几何长度和对应耦合点之间的光学长度,实现了拍长的高精度测量,重复性优于4μm.基于数字全息显微层析成像技术,研制了保偏光纤折射率测量装置,通过记录不同旋转角度下的数字全息图,经滤波反投影处理后重建保偏光纤的二维横截面的折射率分布,实现了折射率的高精度测量,重复性优于10-4.